光電測試系統(tǒng)的原理及性能特點都有哪些?
光電測試系統(tǒng)利用光學原理進行精密檢測的光學檢測技術(shù)與光電變換相結(jié)合構(gòu)成光電檢測技術(shù)。光電檢測技術(shù)是對光學量及大量非光學物理量轉(zhuǎn)換成光學量進行測量的重要手段。
該測試系統(tǒng)測量頻率高,它充分發(fā)揮了線陣CCD芯片的高頻掃描特性,測量頻率可達普遍在500HZ,高可達2000HZ,高于國內(nèi)外同類產(chǎn)品。不僅如此其測量精度也是非常高的,它的精度等級高的高頻CCD芯片,像元分辨率4.7UM。與物像比精確的光學系統(tǒng)相結(jié)合,全系產(chǎn)品高精度0.003MM,低精度也在0.02MM之內(nèi)。
光電測試系統(tǒng)的性能特點有:
1、頻域和時域的測試技術(shù),包括:IMPS,IMVS,阻抗,光電壓衰減,電量抽取和I-V曲線和IPCE測量
2、對有效擴散系數(shù)的計算和電子壽命的“自動”數(shù)據(jù)分析的“一鍵式”操作,適合于對頻域測試技術(shù)比較陌生的使用者。
3、帶有NIST可追溯校準文件的光源,并且日??梢詫ζ溥M行校驗檢查
4、長期穩(wěn)定的熱效管理的光源
5、提供一系列的高亮度單色LED光源
6、軟件包含全套電化學測試技術(shù),包括:循環(huán)伏安(C-V),恒電壓-電流測試,系列的阻抗測試方法以及交流伏安法
7、輔助分壓功能可用于同時檢測陽極和陰極的阻抗和電壓
8、Solartron Analytical的頻率響應(yīng)分析(FRA)技術(shù),包含單波,頻率掃描和多波技術(shù)兼容ModuLab和ModuLab XM全部功能。
光電測試系統(tǒng)是以激光、紅外、光纖等現(xiàn)代光電子器件為基礎(chǔ),通過對被檢測物體的光輻射,經(jīng)光電檢測器接收光輻射并轉(zhuǎn)換為電信號,由輸入電路、放大濾波等檢測電路提取有用信息,再經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換接口輸入計算機運算處理,之后顯示輸出所需要的檢測物理量等參數(shù)。