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短波紅外相機具有高識別度的優(yōu)點
發(fā)布時間： 2021-12-28 點擊次數： 1087次短波紅外相機可進行半導體材料(如太陽能板)進行內部的檢測。也即可以應用于硅錠探傷，硅錠內雜質的檢查和硅片的隱裂檢測。短波紅外相機主要具有以下特點：1、高識別度：短波紅外SWIR成像主要基于目標反射光成像原理，其成像與可見光灰度圖像特征相似，成像對比度高，目標細節(jié)表達清晰，在目標識別方面，SWIR成像是熱成像技術的重要補充；2、全天候適應：短波紅外SWIR成像受大氣散射作用小，透霧、霾、煙塵能力較強，有效探測距離遠，對氣候條件和戰(zhàn)場環(huán)境的適應性明顯優(yōu)于可見光成像；3、微光夜視：在大氣輝光的夜視條件下，光子輻照度主要分布在1.0～1.8μm的SWIR波段范圍內，這使得SWIR夜視成像相比于可見光夜視成像而言具有顯著的先天優(yōu)勢；4、隱秘主動成像：在0.9～1.7μm波段內，激光光源技術成熟(1.06μm、1.55μm)，這使得短波紅外成像在隱秘主動成像應用中具有顯著的對比優(yōu)勢；5、光學配置簡便：從光學上，玻璃光窗在SWIR波段范圍內具有很高的透過率，這賦予SWIR成像一個重要的技術優(yōu)點，這允許SWIR相機可裝配于一個保護窗口內實現高靈敏成像，當應用于某種特定平臺或場合時，這將提供極大的靈活性。
推薦產品：全波段光電探測器（0.2-26um），短波紅外相機(0.9-1.7um)，紅外 熱像儀，微光夜視儀，成像機芯(0.9-1.7um/3-5um/8-14um)，EMCCD/SCMOS相機， 光功率計/能量計，光譜分析儀，光纖滑環(huán)，激光器，激光測距機
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